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MOSFET导通电阻Rds(ON)与VGS、结温、耐压的干系阐发-KIA MOS管

信息来历:本站 日期:2020-03-09 

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MOSFET导通电阻Rds(ON)与VGS、结温、耐压的干系阐发

导通电阻Rds(ON)是场效应管(MOSFET)的一项首要参数,mos管在愈来愈多的新动力和汽车电子利用中,都能发明MOSFET的身影,并且良多利用请求超低导通电阻的MOSFET功率器件。


甚么是Rds(ON)?


Rds(ON)是MOSFET任务(启动)时,漏极D和源极S之间的电阻值,单元是欧姆。对同类MOSFET器件,Rds(ON)数值越小,任务时的耗损(功率耗损)就越小。


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mos管任务电路


对普通晶体管,耗损功率用集电极饱和电压(VCE(sat))乘以集电极电流(IC)表现:


PD=(集电极饱和电压VCE(sat))x(集电极电流IC)


对MOSFET,耗损功率用漏极源极间导通电阻(Rds(ON))计较。MOSFET耗损的功率PD用MOSFET本身具备的Rds(ON)乘以漏极电流(ID)的平方表现:


PD =(导通电阻Rds(ON))x(漏极电流ID)2


因为耗损功率将变成热量披发进来,这对装备会发生负面影响,以是电路设想时城市采用必然的对策来削减发烧,即下降耗损功率。


因为MOSFET的发烧首恶是导通电阻Rds(ON),普通利用中都请求Rds(ON)在Ω级以下。


与普通晶体管比拟,MOSFET的耗损功率较小,以是发烧也小,散热对策也绝对简略。


Rds(ON)与VGS的干系


凡是,栅极源极间电压(VGS)越高,Rds(ON)越小。栅极源极间电压不异的前提下,Rds(ON)因电流差别而差别。计较功率耗损时,须要斟酌栅极源极间电压和漏极电流,挑选合适的Rds(ON)。


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导通电阻-栅极源极间电压特征


普通MOSFET的芯片尺寸(外表面积)越大,Rds(ON)越小。差别尺寸的小型封装前提下,封装尺寸越大可搭载的芯片尺寸就越大,是以Rds(ON)越小。利用中,挑选更大尺寸的封装,Rds(ON)会更小。


Rds(ON)与温度的干系


除VGS,温度是影响Rds(ON)的一个首要身分,与导通状况有关,不管是缩小状况仍是开关状况,温度的影响都非常较着,是以须要注重这一特征。


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MOSFET在饱和导通前提下,Rds(ON)跟着温度的降低有增添的趋向,结温Tc从25℃增添到100℃时,Rds(ON)约莫会增添1倍,这象征着跟着温度的降低,漏—源极的压降降低,漏极电流有减小的趋向,漏极功耗则有增添的趋向,在设置装备摆设自力散热器的时辰应当注重到这一点。


Rds(ON)与耐压的干系

在汽车、充电桩、光伏发电、风力发电等利用中,不少处所请求MOSFET可以或许耐必然电压。若是想要耐压越高就得把MOSFET做厚,越厚的话MOSFET导通电阻就会越大。如许,划一前提下的低导通电阻MOSFET就具备合作上风,以是厂家都在资料和工艺高低工夫把导通电阻做小,小到只要1mΩ,这个时辰的耗损就出格小。


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